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電電化學(xué)作站 型號;HAD-CS1350CS系列電化學(xué)作站由速M(fèi)CU、度FET集成電路組成,內(nèi)置DDS數(shù)字信號合成器、率恒電位/恒電儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道速16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、階梯波循環(huán)伏安(SCV)、方波循環(huán)伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規(guī)脈沖伏安(NPV)以及差分常規(guī)脈沖
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電電化學(xué)作站 型號;HAD-CS1350
電電化學(xué)作站CS系列電化學(xué)作站由速M(fèi)CU、度FET集成電路組成,內(nèi)置DDS數(shù)字信號合成器、率恒電位/恒電儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道速16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、階梯波循環(huán)伏安(SCV)、方波循環(huán)伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規(guī)脈沖伏安(NPV)以及差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV)等電分析方法;還可以成恒電(位)化、動電位()掃描、意恒電(位)方波,多恒電(位)階躍、零電阻電計、電化學(xué)噪聲(電偶電)、電化學(xué)阻抗(EIS)等電化學(xué)測試等能,所有測量能均可定時自動行,用于無人值守下的自動測量。
CS系列包括多種型號,可用于較大電和較槽壓的電化學(xué)測量和應(yīng)用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電輸出范圍為±5A,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電控制范圍:±5.0A;電測量下限為10pA。
CorrTestTM 測試軟件是CS電化學(xué)作站的控制平臺,軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng),并遵守Windows軟件規(guī)則,易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面,命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持*,中文菜單和界面,方便用戶的教學(xué)和科研作。
CorrTestTM 測試軟件還具有別針對材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法,包括鈍化曲線自動或人反掃,電化學(xué)再活化法,溶液電阻(IR降)測量和補(bǔ)償法。CorrtestTM 分析軟件則具有善的數(shù)據(jù)分析能,可對伏安曲線行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算,能對化曲線行電化學(xué)參數(shù)解析,包括化電阻Rp,Tafel斜率ba,bc,腐蝕電密度icorr,腐蝕速率計算等,還可計算噪聲電阻Rn和率譜,并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學(xué)作站采用USB2.0接口與計算機(jī)通訊,設(shè)備安裝簡單,即插即用。
外形尺寸:36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm() 儀器重量:6.5Kg
應(yīng)用域
1) 研究電化學(xué)機(jī)理;物質(zhì)的定性定量分析;
2) 常規(guī)電化學(xué)測試,包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價;
3) 能和能源材料(電池、電容器、納米材料、生物傳感器等)的機(jī)理和制備研究;
4) 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護(hù)效率快速評價以及氫滲測試等;
5) 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/混凝土/土壤等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測試。
儀器配置
1) 儀器主機(jī)1臺 2) CorrTest測試與分析軟件1套
3) 用電解池(含鹽橋和排氣管)1套 4) 鉑金電、參比電、作電各1支
5) 模擬電解池1個 6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7) 電電纜線1根 8) 電架 (選配*)
9) 屏蔽箱 (選配*)
標(biāo)與能方
硬件參數(shù)標(biāo)
恒電位電位控制范圍:±10V | 恒電控制范圍:±5.0A |
電位控制度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電控制度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) | 電靈敏度:<10pA |
電位上升時間:<1mS(<10mA), | 電量程:2A~200nA, 共8檔 |
參比電輸入阻抗:1012 W||20pF | 大輸出電:5.0A |
槽壓:±15V | 電掃描增量:1mA @1A/mS |
CV 和LSV掃描速度:0.01mV~10000V/s | 電位掃描時電位增量:0.1mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的小電位增量:0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit@1kHz, | 電與電位量程:自動設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1mS | 低通濾波器 :8段可編程 |
接口通訊模式:USB2.0 |
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電化學(xué)阻抗測量標(biāo)
信號發(fā)生器 |
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頻率響應(yīng):10mHz~115KHz(CS1310/CS1350) | 交信號幅值:0mV~2500mV |
直偏壓:-10~+10V | DDS輸出阻抗:50W |
波形:正弦波,三角波,方波 | 正弦波失真:<1% |
掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 | 大負(fù)載電容:1nF;大負(fù)載電感:10mH |
信號分析器 |
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積分時間:大值:106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
小值:10mS 或者個循環(huán)的長時間 |
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直偏置補(bǔ)償 |
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電位自動補(bǔ)償范圍:-10V~+10V | 電補(bǔ)償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8可調(diào) |
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CS系列儀器不同型號能
能 方 法 | CS1120 | CS1150 | CS1300 | CS1310 | CS1350 | CS1360 | |
穩(wěn)
| 開路電位測量(OCP) | • | • | • | • | • | • |
恒電位化 | • | • | • | • | • | • | |
恒電化 |
| • | • | • | • | • | |
動電位掃描(DPP) | • | • | • | • | • | • | |
動電掃描(DGP) |
| • | • | • | • | • | |
暫
| 意恒電位方波 | • | • | • | • | • | • |
意恒電方波 |
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多電位階躍(VSTEP) | • | • | • | • | • | • | |
多電階躍(ISTEP) |
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快速電位脈沖 |
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快速電脈沖 |
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計 | 計時電位法(CP) |
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計時電法(CA) |
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計時電量法(CC) |
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| • | • | • | • | |
伏 | 線性掃描伏安法(LSV) | • | • | • | • | • | • |
循環(huán)伏安法(CV) | • | • | • | • | • | • | |
階梯伏安法(SCV) |
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| • |
| • | • | |
差分脈沖伏安法(DPV) |
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| • |
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常規(guī)脈沖伏安法(NPV) |
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| • |
| • | • | |
方波伏安法(SWV) |
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| • | • | |
交伏安法(ACV) |
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| • |
| • | • | |
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV) |
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| • | • | |
二次諧波交伏安 (SHACV) |
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溶 | 恒電位溶出伏安 |
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| • | • |
線性溶出伏安 |
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階梯溶出伏安 |
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方波溶出伏安 |
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| • | • | |
交溶出伏安 |
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| • |
| • | • | |
交 | 電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描 |
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電化學(xué)阻抗(EIS)~時間掃描 |
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| • | • | • | |
電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描 |
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| • | • | • | |
腐 | 循環(huán)化曲線(CPP) | • | • | • | • | • | • |
線性化曲線(LPR) | • | • | • | • | • | • | |
電化學(xué)噪聲 (EN) | • | • | • | • | • | • | |
電偶腐蝕測量 (ZRA) | • | • | • | • | • | • | |
氫擴(kuò)散測試(HDT) |
| • | • | • | • | • | |
電 | 電池充放電測試 |
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恒電充放電 |
| • | • | • | • | • | |
恒電間歇充放電 |
| • | • | • | • | • | |
擴(kuò) | 盤環(huán)電測試 |
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| • | • | • | • |
數(shù)字記錄儀 | • | • | • | • | • | • | |
波形發(fā)生器 |
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圓盤電機(jī)控制 |
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