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介電常數(shù)測(cè)試儀 型號(hào):HAD-Y2858 HAD-Y2858系列由頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
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介電常數(shù)測(cè)試儀 型號(hào):HAD-Y2858
HAD-Y2858系列 介電常數(shù)測(cè)試儀由頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
HAD-Y2858系列作頻率范圍是20Hz~1MHz,它能成作頻率內(nèi)對(duì)緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。
HAD-Y2858系列中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器般用來夾被測(cè)樣品,配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。
1 點(diǎn):
◎ 頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值度和重復(fù)性。
◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1~105
2 主要標(biāo):
2.1 ε和D性能:
2.1.1 固體緣材料測(cè)試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測(cè)試。
2.1.2 ε和D測(cè)量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
2.1.3 ε和D測(cè)量度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
2.2頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
型號(hào) | HAD-Y2817 | HAD-Y2818A |
作頻率范圍 | 100Hz~100kHz(6個(gè)頻點(diǎn)) 度:±0.05% | 20Hz~1MHz 數(shù)字合成,度:±0.02% |
電容測(cè)量范圍 | 0.0001pF~99999μF 四位數(shù)顯 | 0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯 |
電容測(cè)量基本誤差 | ±0.05% | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001~9.9999 四位數(shù)顯 | 0.00001~9.99999 六位數(shù)顯 |
2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測(cè)試裝置(含保護(hù)電)
2.3.1 平板電容器片尺寸:Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合
加溫控溫裝置(選購(gòu)設(shè)備)可以成200℃控溫度l℃加熱測(cè)試
HAD-Y918 介電常數(shù)測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電,能對(duì)直徑φ10~56mm,
厚度<10mm的試樣測(cè)量。它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電法,薄膜電法和
非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
2.4.1 微分頭分辨率:10μm
2.4.2 耐壓:±42Vp(AC+DC)
2.4.3 電纜長(zhǎng)度設(shè)置:1m
2.4.4 使用頻率:30MHz
2.5 頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件):
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定為頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x
提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石,石英玻璃,
氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。
用戶可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
2.6 HAD-Y2858系列 配置
配置類型 | 普及型 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 型 |
電橋作頻率范圍 | 100Hz~100kHz 度:±0.02% | 50Hz~1MHz 度:±0.02% | 50Hz~1MHz 度:±0.02% |
配置型號(hào) | WY2817數(shù)字電橋 +WY916B測(cè)試裝置 | WY2818A頻阻抗分析儀 +WY916B三電測(cè)試裝置 | WY2818A頻阻抗分析儀 +WY918測(cè)試裝置 (能適宜各種樣品) |
介電常數(shù)范圍 | 1-10000 度:±5% | 1-10000 度:±2% | 1-10000 度:±2% |
損耗因素D值范圍 | 0.0001~9.9999 四位數(shù)顯 | 0.00001~9.99999 六位數(shù)顯 | 0.00001~9.99999 六位數(shù)顯
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010-51655247